“一种电子设备加速可靠性增长试验方法”获国家发明专利

　　中国运载火箭技术研究院所属北京强度环境研究所自主研制的“一种电子设备加速可靠性增长试验方法”获国家发明专利。
　　对于许多高可靠、长寿命的电子设备，在正常应力下，进行可靠性增长试验，需要很长的试验周期，耗费大量的资金和人力，工程上往往难以接受。
　　因此，北京强度环境研究所自主研制了“一种电子设备加速可靠性增长试验方法”。该发明解决了综合环境应力下，可靠性试验的加速问题，同时提供了一种加速可靠性增长试验方法，能够在短时间内提高和验证电子设备可靠性水平，解决了高可靠、长寿命电子设备可靠性水平的提高和验证问题。